產品目錄 Products

3ctest _靜電/雷擊/高壓/車載EMC.
- 靜電槍/靜電放電模擬器/靜電產生器 (ESD )
- 電磁耐受性綜合測試系統 (EMS)
- 瞬態脈衝群模擬器 (EFT)
- 雷擊產生器/雷擊模擬器 (Surge)
- 車用電子EMC測試方案 (ISO)
- 工頻磁場模擬器 (MFS)
- 電壓跌落模擬器 (DIP)
- 脈衝磁場產生器 (PMF)
- INS 躁聲模擬器 (NECA TR-28)
- 快/慢阻尼震盪模擬器(DOS)
- 耦合去耦合網路 (CDN)
- 衝擊電壓/衝擊電流 (IEC & JEC)
- 脈衝耐壓安規測試 (IEC & UL)
- 電力線感應接觸測試系統 (UL-60950G & ITU)
- 國軍標測試系統(ESD 300KV)
- 高壓汽車人工網路 (CISPR 25)
- 射頻傳導(CS)
- 共模傳導干擾模擬器
RAD_RF power amplifier
- 射頻放大器RF power amplifier
- 射頻切換器RF selector
Com-Power _頻譜分析儀/信號源/LISN..
- Antennas 各式天線
  - Biconicals Antennas　雙錐天線
  - Log Periodic Antennas 對數週期天線
  - Horn Antennas 號角天線
  - Combilog Antennas 寬頻天線
  - Dipole Antennas 偶極天線
  - Active Loop Antennas 主動環路天線
  - Passive Loop Antennas　被動環路天線
  - Active Monopole Antennas 主動單極天線
- Antenna Kits 天線治具
- Absorbing Clamps 干擾吸收鉗
- CDNs 耦合去耦合網路
  - AF series
  - M series
  - S series
  - T series
- Comb Generators 梳型信號源
- Current Probes 電流感測器
- Emissions System 電磁干擾系統
- Immunity System 電磁耐受性測試系統
- ISNs 阻抗穩定網路
- LISNs 電源阻抗穩定網路
- Masts 天線架
- Near Field Probes 近場測試棒
- Preamplifiers 前置放大器
- Power Amplifiers 功率放大器
- Safety 安規設備
- Spectrum Analyzers 頻譜分析儀
- Surge Generators 雷擊產生器
- Transient Limiters 脈衝限幅器
- Turntables 測試轉盤
- Tripods 三腳架
- Telecom Test System 通訊測試系統
- Telecom Analyzer 通訊分析儀
- 工頻磁場耐受測試 (IEC61000-4-8)
Schwarzbeck_ 全方位EMI供應
- Antennas 各式天線
- CISPR 25 LISN
- Preamplifiers/CG/Field probes
- Probes / EMI Receivers / Pulse Generators / Baluns
- LISN / AMN
- CDN-Coupling/Decoupling Networks
- Dummy Lamps
- Absorbing Clamps
- Near Field Probes
- Striplines / TEM-Cells
- Accessories
TET 東京電子交易株式會社_CDM/HBM/MM
WGTEM_橫向電磁波
TEKBOX DIGITAL SOLUTIONS
- RF AMPLIFIERS
- Antennas
- Comb Generators
- Coupling Decoupling Networks
- RF Current Probes
- LISN
- Spectrum Analyzer / EMI Receiver RF input protecti
- TEM Cells
- Accessories
LUMILOOP 場強計/功率計
- 雷射供電式電場場強計
- 高速功率計
Lisun上海力汕
- 分布光度計
- 光譜分析儀
- 測試積分球
- LED測試儀器
- 熔噴布靜電駐極
- EMC電磁兼容設備
- RoHS測試儀
Hope Tech_電池綜合測試_LCR meter
- 攜帶式電池內阻測試儀
- 高精度電池內阻測試儀
- 電池綜合測試儀
- 直流電阻測試儀
- 程控安規測試儀
- 接地連續性測試
- 絕緣電阻測試儀
- 極板短路測試儀
- 電子負載系列
- 電源供應器
IntrX_專業LISN製造
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- CISPR 16-1-2 Three Phase 4 Wire LISN 3相4線
- LISN (Automotive) CISPR 25 & ISO 7637 單線
- MIL461 EF LISN 單線
Harris_temperature humidity chamber
- Temperature and humidity chamber溫溼度試驗箱
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- High temperature test chamber高溫試驗箱
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- Honeycomb Material
- Antenna Test Systems
MCB-electrics_AC/DC source
- AC power source
- Current Generators
- DC power supplies
EMI Devices
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Teseq_EMC
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- CDN耦合去耦合網路
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RFME_信號源/函數發生器/功率檢測計
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- Broadband Signal Source
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- 射頻元件
Rigol_示波器/信號源/頻譜分析儀..
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AFJ _EMI接收機/LISN/照明EMI..
EMCIS_頻譜/EMI分析儀/濾波器分析儀..
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KingPo_安規測試/電池試驗
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- Medical Test
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電性過壓測試儀(EOT Tester)
量測與校正用工具(治具)
交/直流電源供應器AC Source
二手設備專區

IEC 62368 -1-Figure V.1

IEC 62368 -1-Figure V.1

商品說明

Jointed test probe for equipment likely to be accessible to children

Reference Standard:

IEC62368-1-Figure V.1

Specification:

Test Finger Length:234mm

The Bending Part Length: 30/30/40mm

商品規格

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