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CWS 120CT是為了模擬低電壓突波脈衝幹擾現象而專門設計的一款高階測試設備,適用於突波保護元件(如TVS管、TSPDs、SIDAC、突波抑制器等)的測試,也可用於晶圓 或封裝級的突波抗擾度測試。 輸出電壓範圍從1V至1200V可調,技術參數完全符合IEC/EN 61000-4-5和GB/T 17626.5標準要求。 CWS 120CT設計基於第三代智慧控制平台,具備系統整合度高、控制智慧化、操作簡便、節省測試時間等優點。
EMID 150K電磁干擾去耦夾用於射頻場感應的傳導騷擾抗擾度(GB/T 17626.6-2017、 IEC 61000-4-6-2013)測試中輔助設備端射頻訊號的去耦。 可對150 kHz-230 MHz訊號進行有效衰減,確保輔助設備正常運作。 本產品採用卡扣式結構,可直接套在待去耦的線纜上,使用方便。 同時去耦夾還具有與去耦線纜物理隔離的特性。