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GJB 8848 - 2016
GJB 1389A – 2005
MIL-STD-461E/F/G
EMP-PCI系列脈衝電流注入試驗系統模擬電磁脈衝環境中的天線和電纜可感應產生大電流和高電壓,電磁脈衝能量作用在電子系統上,在裝置與電路中產生脈衝大電流與高電壓,會造成工作狀態幹擾與功能損壞。
破壞主要是針對半導體裝置與積體電路晶片,幹擾脈衝會造成記憶體資料遺失,傳輸資料出錯,裝置功能紊亂,誤觸發,裝置工作效能降低、重新啟動,以及暫時停止工作等問題。能量太高時,產生功能損壞,包括零件或迴路間的高壓電擊穿、半導體PN 結或裝置燒毀、氧化層介質擊穿、積體電路燒毀,造成永久性的物理損傷,以避免電子設備遭受電磁脈衝擾動或損環。
▲典型波形圖
▲系統等效主迴路圖